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Microscopio de fuerzas atómicas

 

El microscopio atómico de fuerzas (AFM) es esencialmente un instrumento de imagen formado por una punta al final de una micropalanca con la cual se puede escanear  una molécula sobre una superficie. También se puede usar para medir curvas de fuerza-extensión de, por ejemplo, ADN, pero debido a la relativamente alta rigidez de la micropalanca, el AFM es más adecuado para la detección de eventos de ruptura a altas fuerzas (por ejemplo, fuerzas de enlace). Su diseño también hace que el instrumento sea menos conveniente para generar torques. Nosotros usamos esta técnica en modo de imagen sobre todo como un método de control para analizar las moléculas individuales antes de su estudio mecano-químico mediante pinzas ópticas. Como parte de los servicios de IMDEA Nanociencia, usamos un JPK Nanowizard® II, que combina fluorescencia y AFM, y un Nanotec Cervantes®.

 

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